Skip to article frontmatterSkip to article content
Site not loading correctly?

This may be due to an incorrect BASE_URL configuration. See the MyST Documentation for reference.

Wienerprosess

Authors
Affiliations
SINTEF Energi
SINTEF Energi
SINTEF Energi

Der det er tilgang til informasjon om komponentens degradering på en kontinuerlig skala (for eksempel overvåkning med sensor) kan modellering av degraderingsprosessen ved hjelp av en Wienerprosess være et godt alternativ. En fordel med Wienerprosessen er at det finnes enkle metoder for å modellere fremtidig sannsynlighet for svikt.

Dette kapittelet presenterer hvilke forutsetninger som må være på plass for å kunne benytte Wienerprosessen for degraderingsmodellering og estimering av fremtidig sviktsannsynlighet.

Source

Generering av syntetiske tilstandsdata

Vi antar at degraderingen måles med en helseindikator (HI) x ved tidsinkrement t = [1,2,3, ... ,tau]. Videre har komponenten et definert sviktnivå ved x = L.

<Figure size 640x480 with 1 Axes>

Vi velger ut ett degraderingsforløp som vi analyserer videre:

Source
<Figure size 640x480 with 1 Axes>

Forutsetning for bruk av Wienerprosessen for degraderingsmodellering

Forutsetningene som er relevant i denne sammenhengen er at endringen i en måling av x til den neste

Sjek om endringen i degraderingsinkrement er stabil over tid

<Figure size 640x480 with 1 Axes>

Sjekk om påfølgende måling av helseindikator er statistisk uavhengige

For at denne typen statistisk modell skal kunne benyttes for å predikere levetidsfordeling må degraderingsinkrementene komme fra en uavhengig og identisk fordelt variabel (se Uavhengige, identisk fordelte variabler).

<Figure size 640x480 with 1 Axes>

Sjekk om inkrementene er normalfordelte:

<Figure size 640x480 with 1 Axes>

Parameterestimering for degraderingsprosessen

delta_x_bar = 0.094
Gjennomsnittlig tid-til-svikt: 424.0
<Figure size 640x480 with 1 Axes>

Fordeling restlevetid

En fordel med Wienerprosessen er at tid til første kryssing av en definert terskel (L) følger invers Gauss fordeling (IG). Hvis svikt er definert når HI overstiger terskel L, med andre ord, svikt inntreffer første gang X(t)≥L, så kan fordelingen for svikttidspunktet modelleres som

T∼IG(t;μ,λ)T \sim IG(t;μ,λ)

hvor μ=(L−x0)/νμ=(L-x_0)/ν og λ=(L−x0)2/σ2.λ=(L-x_0)^2/σ^2.

Dette er beskrevet nærmere i prosjektnotatet “Alternativer for videreutvikling av modeller for fremtidig sviktsannsynlighet”. For mer informasjon om IG-fordelingen se: https://docs.scipy.org/doc/scipy/reference/generated/scipy.stats.invgauss.html

Estimering av drift og diffusjonskoeffisient basert på degraderingsforløpet

Source
<Figure size 640x480 with 1 Axes>
<Figure size 640x480 with 1 Axes>